Prof. Dr. Ayhan MERGEN Konferans Salonu’nda 22 Mart’ta düzenlenen seminere, Türk Patent ve Marka Kurumu Sınai Mülkiyet Uzmanı Fikri Hangül konuşmacı olarak katıldı.
Sınai mülkiyet varlığının değerinin tespit edilmesi çalışmaları çerçevesinde düzenlenen seminerde Fikri Hangül, değerleme ile ilgili temel kavramlar, değerlemeyi etkileyen faktörler, objektif kriterler, subjektif kriterler, ticari faktörler ve patent değerleme yöntemleri konularında bilgi verdi.
